宜特检测透射电子显微镜tem
性能相当强的材料分析、可达0.1奈米影像分辨率设备的tem，将可针对材料之显微结构、晶体缺点、化学成分进行分析；搭配上eds、haadf(zc)、应力分析等功能，更能得到原子尺度结构与成份信息，解决制程上各种难题。
ist宜特tem分析四大优势
一、领先市场的分析能力：已达5奈米制程节点；
二、快速交期：三班制24小时运作；
三、fei、jeol等相当高阶设备，供您选择(参见下表)；
四、样品制备能量：八台业界相当高阶fei helios 660 dual-beam fib设备，搭配消掉试片损伤层(离子束能量可低至100 ev)的技术，将协助您取得相当高质量tem影像。
关于宜特：
ist始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。